顯微顆粒圖像分析儀測試原理:

通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計，計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等，再對所有的顆粒進行統(tǒng)計，從而得到粒度分布等信息。

顯微顆粒圖像分析儀適用領(lǐng)域:

1、研磨材料：金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。

2、電池材料：球形石墨、鈷酸鋰等。

3、用于驗證其他粒度測試的手段和方法。

使用顆粒圖像分析時應(yīng)注意的事項:

⒈取放顆粒圖像分析時動作一定要輕，切忌震動和暴力，否則會造成光軸偏斜而影響觀察，而且光學(xué)玻璃也容易損壞。

⒉由于物鏡的螺絲口容易損傷，安裝物鏡時要特別小心，即先向左方倒轉(zhuǎn)一小段，凹凸雙方吻合后再向右方旋轉(zhuǎn)，不要轉(zhuǎn)的太緊，輕輕捻到頭，再稍緊即可。

⒊鏡檢標本應(yīng)嚴格按照操作程序進行，觀察時要從低倍鏡開始，看清標本后再轉(zhuǎn)用高倍鏡、油鏡。

⒋使用油鏡時一定要在蓋玻片上滴油后才能使用。油鏡使用完后，應(yīng)立即將鏡頭、蓋玻片上的油擦干凈，否則干后不易擦去，以致?lián)p傷鏡頭和標本。但應(yīng)注意二甲苯用量不可過多，否則，物鏡中的樹膠溶解，透鏡歪斜甚至脫落，蓋玻片移動甚至連同標本一起融掉。

⒌顆粒圖像分析使用時不可用手摸光學(xué)玻璃部分，如需擦拭應(yīng)嚴格按照光學(xué)部件擦拭辦法。

⒍顆粒圖像分析使用的蓋玻片和載玻片不能過厚或過薄。標準的蓋玻片為0.17±0.02毫米，載玻片為1.1±0.04毫米。過厚或過薄將會影響顯微鏡成像及觀察。